
本书针对电子设备板级可靠性工程问题,阐述了板级可靠性工程中需要展的主要工作,包括选择可靠的元器件、可靠地使用元器件、板级可靠性工程设计(DFX)、板级组装工艺可靠性、单板常见失效模式及失效机理、板级可靠性试验与测试、板级失效分析等。通过选择可靠的元器件、展可靠性设计、保障可靠性制造,达到保证板级可靠性的目的,同时,针对板级可靠性要求行试验和测试,针对板级失效做好失效分析。本书可作为电子产品硬件设计、可靠性设计、工艺设计、测试、CAD、质量与可靠性管理等相关行业的工程技术人员、科研人员的参考书,也可作为高等院校电子相关专业的教师、学生的教学参考书。<br/>【作者】<br/>王文利,男,1971年出生,工学博士、博士后、教授,主要从事电子可靠性研究。博士期间参与"500米口径大射电望远镜FAST”(天眼)项目研究,获省级科技步一等奖;曾任职华为技术有限公司,主持建立公司工艺可靠性技术平台;先后主持和参与10 余项国家、省、市级项目,已发表相关论文40 余篇,出版专著及教材5部。<br/>
点点赞赏,手留余香
给TA打赏
評論0